发明名称 |
集成电路测试压紧装置 |
摘要 |
本实用新型提供了一种集成电路测试压紧装置,涉及集成电路测试测试领域。该集成电路测试压紧装置包括摆动块、弹性件、压块和空芯管;所述弹性件放置在所述摆动块和所述压块之间;压块上设置有深定位槽和转位孔,转位孔设置在压块的侧面并贯穿压块,深定位槽与转位孔垂直,弹性件放置在深定位槽内,弹性件的自然长度超过该深定位槽的深度;摆动块上设置有空腔,空腔的两侧设置有位置相对的圆孔,压块被扣合在摆动块的空腔内,空腔内与弹性件接触的顶部设置有浅定位槽;空芯管穿过摆动块上的圆孔和压块上的转位孔。本实用新型能自由摆动及伸缩,可适应不同厚度的集成电路的测试。 |
申请公布号 |
CN203705475U |
申请公布日期 |
2014.07.09 |
申请号 |
CN201420047113.2 |
申请日期 |
2014.01.24 |
申请人 |
深圳市斯纳达科技有限公司 |
发明人 |
王国华 |
分类号 |
G01R1/02(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/02(2006.01)I |
代理机构 |
深圳国鑫联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 |
代理人 |
王志强 |
主权项 |
集成电路测试压紧装置,其特征在于:该集成电路测试压紧装置包括摆动块、弹性件、压块和空芯管;所述弹性件放置在所述摆动块和所述压块之间;压块上设置有深定位槽和转位孔,转位孔设置在压块的侧面并贯穿压块,深定位槽与转位孔垂直,弹性件放置在深定位槽内,弹性件的自然长度超过该深定位槽的深度;摆动块上设置有空腔,空腔的两侧设置有位置相对的圆孔,压块被扣合在摆动块的空腔内,空腔内与弹性件接触的顶部设置有浅定位槽;空芯管穿过摆动块上的圆孔和压块上的转位孔。 |
地址 |
518100 广东省深圳市宝安西乡固戍南昌健裕第二工业区A栋202 |