发明名称 |
隔振器加速老化失效标准确定方法 |
摘要 |
本发明公开了一种隔振器加速老化失效标准确定方法,包括:确定隔振器的加速老化失效时间;采用相同的加速老化条件对隔振器进行加速老化处理;取经过不同加速老化时间老化的隔振器进行模拟夹具振动试验,测得经过不同加速老化时间对应的隔振器的阻尼比;取若干隔振器压缩试片进行压缩永久变形试验,测得经过不同加速老化时间对应的隔振器压缩试片的压缩永久变形保留率;分别对测得的所述隔振器的阻尼比及隔振器压缩试片的压缩永久变形保留率以及二者对应的加速老化时间进行拟合处理;分别得到隔振器失效标准以及隔振器压缩试片失效标准。采用本发明提供的隔振器加速老化失效标准确定方法,得到的隔振器加速老化失效标准更具说服力和参考价值。 |
申请公布号 |
CN103604575A |
申请公布日期 |
2014.02.26 |
申请号 |
CN201310499965.5 |
申请日期 |
2013.10.22 |
申请人 |
航天科工防御技术研究试验中心 |
发明人 |
赵艳涛;王海燕;祝捷 |
分类号 |
G01M7/02(2006.01)I;G01M13/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M7/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京风雅颂专利代理有限公司 11403 |
代理人 |
李弘;陈安平 |
主权项 |
一种隔振器加速老化失效标准确定方法,其特征在于,包括:确定隔振器的加速老化失效时间;采用相同的加速老化条件对隔振器和隔振器压缩试片进行加速老化处理;对经过不同加速老化时间老化的隔振器分别进行模拟夹具振动试验,测得经过不同加速老化时间老化的隔振器对应的阻尼比;对经过不同加速老化时间老化的隔振器压缩试片进行压缩永久变形试验,测得经过不同加速老化时间老化的隔振器压缩试片对应的压缩永久变形保留率;分别对测得的所述隔振器的阻尼比及隔振器压缩试片的压缩永久变形保留率以及二者对应的加速老化时间进行拟合处理;分别得到隔振器失效标准以及隔振器压缩试片失效标准。 |
地址 |
100085 北京市海淀区永定路50号 |