发明名称 |
一种制备含锗和银的类金刚石薄膜的方法 |
摘要 |
一种制备含锗和银的类金刚石薄膜的方法属于薄膜沉积技术领域,采用已有的真空室及工艺配置,在室温下调节基底至End-Hall型离子源之间的距离;调节真空室的真空度达到1×10-3Pa量级;选择CH4作为气体,在气体流量控制计的控制下以60sccm的气体流量通入End-Hall型离子源;沉积开始前真空室的真空度通过真空室抽气孔调节,真空度保持在2×10-2Pa量级,控制End-Hall型离子源的阳极电流为2A、阳极电压为90V;沉积开始时使用两支电子枪发射电子束在同一时刻蒸发锗和银;在基底上得到含锗和银类金刚石薄膜。在保证类金刚石薄膜优点的同时,银和锗元素的掺杂提高了薄膜在植入人体时的适应性。 |
申请公布号 |
CN103590007A |
申请公布日期 |
2014.02.19 |
申请号 |
CN201310631026.1 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
发明人 |
王彤彤;高劲松;王笑夷;李玉东 |
分类号 |
C23C14/30(2006.01)I;C23C14/14(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/30(2006.01)I |
代理机构 |
长春菁华专利商标代理事务所 22210 |
代理人 |
张伟 |
主权项 |
一种制备含锗和银的类金刚石薄膜的方法,该方法包括如下步骤:第一步,根据已有的真空室及沉积工艺进行设备配置;第二步,在室温下,把基底(14)固定在旋转夹具(11)上,并根据End‑Hall型离子源(2)的型号调节旋转夹具(11)与End‑Hall型离子源(2)之间的距离,使沉积在基底(14)上的薄膜均匀;第三步,真空室(1)中的气体通过真空室抽气孔(12)被抽出,调节真空室(1)的真空度达到1×10‑3Pa量级;第四步,选择CH4作为气体(3),在气体流量控制计(4)的控制下以60sccm的气体流量通入End‑Hall型离子源(2);第五步,沉积开始前,真空室(1)的真空度通过真空室抽气孔(12)调节,真空度保持在2×10‑2Pa量级,控制End‑Hall型离子源(2)的阳极电流为2A、阳极电压为90V;第六步,沉积开始时,使用电子枪(7)发射电子束(5)蒸发银(6),同时使用电子枪(10)发射电子束(8)蒸发锗(9),在基底(14)上得到含锗和银类金刚石薄膜(13)。 |
地址 |
130033 吉林省长春市东南湖大路3888号 |