发明名称 位置检测器
摘要 位置检测器包括检测磁通密度的霍尔元件(11)和检测霍尔元件(11)的温度的温度检测元件(16)。在旋转角计算处理中,通过将温度检测元件(16)的检测温度t和在参考温度t0下的参考最大电压V0代入a=V0×k(t–t0)来计算温度校正值a。接下来,通过将温度校正值a代入温度特性公式Vt=V0+a来计算校正最大电压Vt。另外,通过将霍尔元件(11)的输出电压VH和校正最大电压Vt代入θ=sin-1(VH/Vt)来计算磁体(20、21)相对于霍尔元件(11)的旋转角θ。因为根据温度来校正该校正最大电压Vt,因此能精确检测旋转角。
申请公布号 CN103575210A 申请公布日期 2014.02.12
申请号 CN201310339222.1 申请日期 2013.08.06
申请人 株式会社电装 发明人 久保田贵光;水谷彰利;河野祯之
分类号 G01B7/30(2006.01)I;G01D5/14(2006.01)I 主分类号 G01B7/30(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 韩宏;陈松涛
主权项 一种位置检测器,包括:磁场产生元件(20、21);磁场检测元件(11),其输出根据在所述磁场检测元件(11)相对于所述磁场产生元件(20、21)旋转时引起的磁通密度的变化的电压;温度检测元件(16),其检测所述磁场产生元件(20、21)的温度,并输出根据所检测的温度的电压;存储元件(13),其存储温度特性公式和输出特性公式,其中,所述温度特性公式表示参考最大电压、温度校正值以及校正最大电压之间的关系,所述参考最大电压是在所述磁场产生元件(20、21)具有参考温度时从所述磁场检测元件(11)输出的输出电压的最大值,基于由所述温度检测元件(16)检测的检测温度来计算所述温度校正值,通过由所述温度校正值校正所述参考最大电压来计算所述校正最大电压,其中,所述输出特性公式表示所述磁场产生元件(20、21)相对于所述磁场检测元件(11)的旋转角、所述磁场检测元件(11)的输出电压以及所述校正最大电压之间的关系;以及旋转角计算元件(12),其被电连接到所述磁场检测元件(11)、所述温度检测元件(16)以及所述存储元件(13),所述旋转角计算元件(12)使用所述温度特性公式和所述输出特性公式并基于所述温度检测元件(16)的检测温度、所述磁场检测元件(11)的输出电压以及所述参考最大电压,来计算所述磁场产生元件(20、21)相对于所述磁场检测元件(11)的旋转角,其中所述磁场产生元件(20、21)相对于所述磁场检测元件(11)的所述旋转角被称为θ,所述磁场检测元件的输出电压在所述温度检测元件(16)的检测温度是t且所述旋转角是θ时被称为VH,所述校正最大电压在所述检测温度是t时被称为Vt,则所述输出特性公式被表示为θ=sin‑1(VH/Vt)。
地址 日本爱知县
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