用于半导体装置之监视电路

摘要

本发明提供一种用于监视一元件(例如，熔丝)之电阻之技术，该熔丝之电阻因包含于一半导体装置之内部电路中之电应力而改变。本发明提供一种监视电路，以在该装置正在程式化期间及在该装置经程式化之后监视该装置规格之改变。本发明藉由将载入电压及熔丝电压与可更精确地感测电阻变化之范围的参考电压相比较，而得能够验证一经最佳化条件以使该装置具有某一电阻。由于在给定电应力之后仍可感测电阻，因此其亦可保证装置可靠性。本发明亦可藉由处理一输出以监视在该半导体内部所感测之电阻来提高该熔丝之效用。