发明名称 校正电子装置的方法及其系统
摘要 一种校正电子装置的方法及其系统,包括:准备多个从一批待校正的电子装置中取出的电子装置样品,并以一个统计装置取得各该电子装置样品在未有物体靠近时,其近接感测器感测光所产生的一个第一光感测值,以及各该电子装置样品与一个物体相距一个预定距离时,其近接感测器感测光所产生的一个第二光感测值,并统计各该第二光感测值减去相对应的各该第一光感测值而得到的多个第三光感测值及其一个第一光平均值,再以一个校正装置取得一个待校正的电子装置在未有物体靠近时,其近接感测器感测光所产生的一个第四光感测值,并设定该待校正的电子装置的一个临界值为该第四光感测值加上该第一光平均值。
申请公布号 CN103389834A 申请公布日期 2013.11.13
申请号 CN201210147917.5 申请日期 2012.05.11
申请人 敦南科技股份有限公司 发明人 祝煜伦;王临轩;苏振树
分类号 G06F3/042(2006.01)I 主分类号 G06F3/042(2006.01)I
代理机构 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人 任永武;须一平
主权项 一种校正电子装置的方法,该电子装置中设有一近接感测器,其特征在于,该方法包括:(A)准备多个电子装置样品,这些电子装置样品是从多个设有该近接感测器的待校正的电子装置中取出,且每一个电子装置样品中设有一个临界值,当其判断该近接感测器感测光所对应产生的一个光感测值大于该临界值时,会启动一个预定功能;(B)以一个统计装置取得各该电子装置样品在未有物体靠近的同一环境下,其近接感测器感测光所产生的一个第一光感测值,以及各该电子装置样品与一个靠近的物体相距一个预定距离的同一环境下,其近接感测器感测光所产生的一个第二光感测值;(C)该统计装置以各该第二光感测值减去相对应的各该第一光感测值,以求得多个第三光感测值,并统计分析这些第三光感测值,以求得一个第一光平均值;及(D)以一个校正装置取得一个待校正的电子装置在未有物体靠近的该同一环境下,其近接感测器感测光所产生的一个第四光感测值,并设定该待校正的电子装置的该临界值为该第四光感测值加上该第一光平均值。
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