发明名称 半导体记忆装置
摘要 本发明系提供一种半导体记忆装置,其系具有各记忆体层之资料写入、抹除、读出特性平均化之叠层构造。本发明之半导体记忆装置包含:复数个记忆体层,其系分别包含有胞阵列且呈多层地配置,而该胞阵列包含:互相平行之复数个第1布线、配置成与该等第1布线交叉且互相平行之复数个第2布线、以及连接于该等第1布线与第2布线之交叉部分之复数个记忆体胞;脉冲产生器,其系产生并输出对于前述记忆体胞之资料存取所必要之脉冲;及控制机构,其系控制前述脉冲产生器,以使从前述脉冲产生器所输出之脉冲,成为因应将要存取之记忆体胞所属之记忆体层之能量。
申请公布号 TWI413121 申请公布日期 2013.10.21
申请号 TW098104195 申请日期 2009.02.10
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 永岛宏行;常盘直哉
分类号 G11C13/00;G11C7/22 主分类号 G11C13/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本