| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Lokalisieren eines Defekts in einem elektrochemischen Speicher (165). Das Verfahren umfasst einen Schritt des Temperierens eines Teilbereichs (145, 150, 155, 160, 170) des elektrochemischen Speichers (165), um einen Innendruck des Teilbereichs (145, 150, 155, 160, 170) zu erhöhen, einen Schritt des Erfassens eines Messwerts, der einen ansprechend auf den erhöhten Innendruck des Teilbereichs (145, 150, 155, 160, 170) erfolgenden Austritt einer Komponente aus dem Teilbereich (145, 150, 155, 160, 170) repräsentiert, und einen Schritt des Lokalisierens des Defekts in dem Teilbereich (145, 150, 155, 160, 170), wenn der Messwert in einer vorbestimmten Relation zu einem Vergleichswert steht. |
