发明名称 |
用于光学零件测量系统的校准设备 |
摘要 |
提供了一种用于光学零件测量系统中的校准设备。该设备具有中心轴和关于该轴旋转地对称的多个区域。该设备包括一系列阶梯形部分,该一系列阶梯形部分限定具有多个阶梯边缘的多阶梯区域。该多阶梯区域的外形包含用于校准该系统的信息。该设备还包括多个柱体形部分,该多个柱体形部分沿着该轴间隔开,并限定包含用于校准该系统的信息的常量直径区域。该设备还进一步包括平截头体形部分,该平截头体形部分限定一对分开的倾斜边缘区域和倾斜区域,该倾斜区域具有由该一对倾斜边缘区域标记的边界。该平截头体形部分具有在其边界处的第一直径和第二直径,该边界限定能够在该系统中被测量的零件的直径范围。 |
申请公布号 |
CN101836092B |
申请公布日期 |
2013.10.16 |
申请号 |
CN200880112751.5 |
申请日期 |
2008.09.26 |
申请人 |
GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 |
发明人 |
约翰·D·斯伯丁 |
分类号 |
G01J1/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01J1/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
颜涛;郑霞 |
主权项 |
一种用于光学零件测量系统中的校准设备,所述设备具有中心轴和多个区域,所述多个区域关于所述轴旋转地对称,所述设备包含:一系列阶梯形部分,所述一系列阶梯形部分限定具有多个阶梯边缘的多阶梯区域,其中,所述多阶梯区域的外形包含用于校准所述系统的信息;多个柱体形部分,所述多个柱体形部分沿着所述轴间隔开,并限定常量直径区域,所述常量直径区域包含用于校准所述系统的信息;及平截头体形部分,所述平截头体形部分限定一对分开的倾斜边缘区域和倾斜区域,所述倾斜区域具有由所述一对分开的倾斜边缘区域标记的边界,其中,所述平截头体形部分具有在其边界处的第一直径和第二直径,所述平截头体形部分的边界限定能够在所述系统中被测量的零件的直径范围,且其中,所述一对分开的倾斜边缘区域和所述倾斜区域的外形包含用于校准所述系统的信息。 |
地址 |
美国密歇根州 |