发明名称 |
半导体结构及其制造方法、制备含气隙图案的光罩的方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体结构、制造半导体结构的方法以及制备含有气隙图案的光罩的方法。半导体结构包括一第一含金属层、一介电材料帽盖层、一第二含金属层和一导电垫。第一含金属层包括一组金属结构、一介电材料填充物和一气隙区域,其中介电材料填充物占据第一含金属层的一部分,以及气隙区域由至少该组金属结构和介电材料填充物来界定,且紧邻该组金属结构的至少一部分。第二含金属层包括至少一介层窗插塞,其电性连接至该组金属结构的一部分。导电垫和介层窗插塞与气隙区域不重叠。 |
申请公布号 |
CN102163592B |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN201010540003.6 |
申请日期 |
2010.11.02 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
苏淑慧;黄震麟;杨景峰;吴振诚;吴仁贵;陈殿豪;米玉杰 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01)I;H01L23/532(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
一种半导体结构,其特征在于,包括:一第一含金属层,包括:一组金属结构;一介电材料填充物,其占据该第一含金属层的一部分;以及一气隙区域,由至少该组金属结构和该介电材料填充物所界定,且紧邻该组金属结构的至少一部分;一介电材料帽盖层,形成于该第一含金属层的上方,其中该介电材料帽盖层的厚度介于30nm和50nm之间以让热分解聚合物材料通过;一第二含金属层,形成于该介电材料帽盖层的上方,该第二含金属层包括一介层窗插塞,该介层窗插塞电性连接至该组金属结构的一部分,且该介层窗插塞与该气隙区域不重叠;以及一导电垫,形成于该第二含金属层的上方,且与该气隙区域不重叠。 |
地址 |
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号 |