发明名称 互连结构及其制造的方法
摘要 本发明提供一种在层间介电(ILD)材料中形成互连结构的方法,该方法的步骤包括在层间介电材料产生一或多个介层开口;形成第一衬层以覆盖一或多个介层开口之至少其中一个;产生一或多个沟渠开口在第一衬层所覆盖之一或多个介层开口之至少其中一个的顶部上;以及形成第二衬层以覆盖沟渠开口与第一衬层之至少一部分。亦提供一种由该方法所形成的互连结构。
申请公布号 TWI402937 申请公布日期 2013.07.21
申请号 TW096125170 申请日期 2007.07.11
申请人 万国商业机器公司 美国 发明人 西欧朵鲁斯 艾德瓦杜斯 史坦达尔特;皮基M. 戴维斯;约翰 安东尼 费兹赛门斯;史帝芬 爱德华 葛瑞可;柯慈曼;那芙泰利 伊利尔胡 路斯汀;李 马修 倪秋森;苏嘉沙 山卡朗
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 蔡玉玲 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项
地址 美国