发明名称 3D光阀快速响应时间和高对比度的测试装置
摘要 3D光阀快速响应时间和高对比度的测试装置属于光电子学和测量技术领域,该装置包括计算机(1)、光源(2)、起偏器(3)、第一遮光筒(4)、第二遮光筒(5)、检偏器(6)和探测器(7),光源(2)、起偏器(3)、第一遮光筒(4)、第二遮光筒(5)、检偏器(6)、探测器(7)顺次共轴设置,计算机(1)与探测器(7)连接。本实用新型的有益效果是:该测试装置中使用了遮光筒,降低了外界光强度变化对响应时间测试的影响,并提高了对比度测试中光强的稳定性,使对比度测试量级达到上万级;该装置对响应时间测试数据进行了FIR低通滤波,有效的滤除了系统噪声。
申请公布号 CN203069350U 申请公布日期 2013.07.17
申请号 CN201320003246.5 申请日期 2013.01.05
申请人 北方液晶工程研究开发中心 发明人 荆海;张航;兰强;安吉宇
分类号 G01M11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 田春梅
主权项 3D光阀快速响应时间和高对比度的测试装置,其特征在于,该装置包括计算机(1)、光源(2)、起偏器(3)、第一遮光筒(4)、第二遮光筒(5)、检偏器(6)和探测器(7),光源(2)、起偏器(3)、第一遮光筒(4)、第二遮光筒(5)、检偏器(6)、探测器(7)顺次共轴设置,计算机(1)与探测器(7)连接;计算机(1)向3D光阀被测样品(8)发出所需的驱动信号,同时向光源(2)发出启动信号,光源(2)发出的测试光经过起偏器(3)成为偏振光后直接通过第一遮光筒(4)滤除杂光,第一遮光筒(4)的出射光经3D光阀被测样品(8)透射,透射后的光继续沿光轴经过第二遮光筒(5)滤除杂光并经过检偏器(6)检偏,最后入射探测器(7);探测器(7)将测试光的光信号转换为待滤波的电信号并将该待滤波的电信号传送给计算机(1)中的数据采集卡,数据采集卡对传来的待滤波电信号进行初步滤波降噪和放大处理,然后将输出的待滤波的电信号分别发送给计算机(1)中的低通滤波器和第一示波器;计算机(1)中的低通滤波器对待滤波的电信号进行数字低通滤波处理,并将得到的输出信号发送给计算机(1)中的第二示波器;第一示波器和第二示波器分别显示各自收到的输入信号的波形。
地址 130033 吉林省长春市仙台大街1468号