发明名称 液晶显示模块测试方法、装置、系统及测试设备
摘要 本发明公开了一种液晶显示模块测试方法、装置、系统及测试设备,用以提高液晶显示模块测试的测试效率和测试设备的兼容性。其中,液晶显示模块测试系统,包括上位机、液晶测试控制装置、驱动电路以及液晶测试模块,其中:上位机与至少两个液晶测试控制装置连接;每一液晶测试控制装置,通过驱动电路与至少两个液晶显示模块连接,所述液晶测试控制装置与所述驱动电路之间通过液晶驱动接口连接;所述上位机,用于向所述液晶测试控制装置发送液晶驱动接口初始化指令;所述液晶测试控制装置,用于在接收到所述液晶驱动接口初始化指令后,对液晶驱动接口进行初始化;以及从所述上位机下载测试图像,通过所述驱动电路传输给每一液晶显示模块进行显示。
申请公布号 CN103105684A 申请公布日期 2013.05.15
申请号 CN201310023303.0 申请日期 2013.01.22
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 张浩
分类号 G02F1/13(2006.01)I;G09G3/36(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种液晶显示模块测试系统,其特征在于,包括上位机、液晶测试控制装置、驱动电路以及液晶测试模块,其中:所述上位机与至少两个液晶测试控制装置连接;每一液晶测试控制装置,通过驱动电路与至少两个液晶显示模块连接,所述液晶测试控制装置与所述驱动电路之间通过液晶驱动接口连接;所述上位机,用于向所述液晶测试控制装置发送液晶驱动接口初始化指令;所述液晶测试控制装置,用于在接收到所述液晶驱动接口初始化指令后,对液晶驱动接口进行初始化;以及从所述上位机下载测试图像,通过所述驱动电路传输给每一液晶显示模块进行显示。
地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号