发光二极体之晶片温度量测系统及量测方法

摘要

一种发光二极体之晶片温度量测系统及量测方法，系利用具有强大资料撷取与监控功能的开发程式开发出之人机介面与仪器硬体作沟通，藉由量测一待测发光二极体之顺向电压，进而计算出在该发光二极体受到驱动而正常发光之后，该发光二极体之晶片温度，并藉由找出该发光二极体之最佳量测电流，使计算出之晶片温度更加准确。