发明名称 |
信息存储介质、信息记录方法和设备,以及信息再现方法和设备 |
摘要 |
即使在介质抵御覆盖的能力相对较低的情况下,也能提供能够进行高度可靠的缺陷管理的信息存储介质。该信息存储介质包括:其中记录有关替换过程的缺陷管理信息的缺陷管理区(DMA),有关缺陷管理区(DMA)的缺陷管理信息的备用区,以及其中记录用于管理使用缺陷管理信息的备用区的替换过程的DMA管理器的区域。 |
申请公布号 |
CN101783159B |
申请公布日期 |
2013.03.27 |
申请号 |
CN201010142358.X |
申请日期 |
2005.09.16 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
安东秀夫;高桥秀树;柏原裕;小川昭人 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
付建军 |
主权项 |
一种在其中形成有脉冲切割区BCA的只再现光盘,所述只再现光盘包括:在脉冲切割区BCA外部形成的系统引入区域SYLDI;在系统引入区域SYLDI外部形成的连接区域CNA;在连接区域CNA外部形成的数据引入区域DTLDI;和在数据引入区域DTLDI外部形成的数据区DTA,其中所述脉冲切割区BCA、所述系统引入区域SYLDI和所述数据引入区域DTLDI分别包括压纹坑,所述系统引入区域SYLDI包括指示所述脉冲切割区BCA存在还是不存在的信息,以及其中脉冲切割区BCA中显微凹凸形状的光道间距与系统引入区域SYLDI的光道间距一致,使所述系统引入区域SYLDI的光道间距大于所述数据引入区域DTLDI的光道间距,以使得系统引入区域SYLDI记录密度比数据引入区域DTLDI的记录密度更低。 |
地址 |
日本东京都 |