发明名称 |
薄膜晶体管的制造方法及显示装置的制造方法 |
摘要 |
本发明揭示了薄膜晶体管和显示设备的制造方法,并且提供一种漏电流小且可靠性高的半导体装置的制造方法。在薄膜晶体管的制造方法中,通过利用抗蚀掩模进行蚀刻来在薄膜晶体管中形成背沟道部,通过去掉该抗蚀掩模并蚀刻所述背沟道部的一部分,去掉残存于背沟道部上的蚀刻残渣等,由此可以降低产生的漏电流。当进一步蚀刻背沟道部时,可以以无偏向的干法蚀刻来进行。 |
申请公布号 |
CN102903759A |
申请公布日期 |
2013.01.30 |
申请号 |
CN201210403155.0 |
申请日期 |
2008.09.02 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
宫入秀和;笹川慎也;石塚章广 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
钱孟清 |
主权项 |
一种半导体器件,包括:栅电极;所述栅电极上的栅极绝缘层;所述栅极绝缘层上的半导体层;以及所述半导体层上的源电极和漏电极,其中所述半导体层具有在所述源电极和所述漏电极之间的凹部,以及其中整个所述半导体层与所述栅电极重叠。 |
地址 |
日本神奈川县 |