发明名称 多轴摄影机校正样版装置
摘要 一种多轴摄影机校正样版装置,包含有一单镜头摄影机、至少一校正样版及一具至少四自由度之多轴定位平台,其中校正样版上形成有至少二标记,如此,透过单镜头摄影机产生外部参数校正,并配合多轴定位平台进行单镜头摄影机与多轴定位平台间距离的绝对原点归零,以及多轴定位平台原点与单镜头摄影机参考原点间相对位置的归零,其中单镜头摄影机与多轴定位平台间距离的原点,系利用多轴样版二标记于单镜头摄影机之影像平面上的距离来进行归零,而多轴定位平台原点与影像参考点间的关系,利用校正样版其中一个标记于影像中的位置来求得,而样本像座标间与影像座标间的夹角,则利用二标记间的直线与影像座标间的关系来求得,如此即能利用校正样版上的二标记于单镜头摄影机上的关系来进行外部参数的校正。
申请公布号 TWM443866 申请公布日期 2012.12.21
申请号 TW100208301 申请日期 2011.05.10
申请人 全研科技有限公司 发明人 邱毓英;李浩玮;范嘉敏
分类号 G03B15/00 主分类号 G03B15/00
代理机构 代理人 简靖峰 台中市南屯区文心路1段73号4楼之2
主权项 一种多轴摄影机校正样版装置,包括:多轴定位平台,系提供设置校正样版,并透过校正样版上的二标记提供单镜头摄影机撷取校正样版之标记图像;校正样版,设置于单镜头摄影机与待测物之间,校正样版表面具有二标记,而校正样版之二标记可为相同或不同之型式,以做为单镜头摄影机影像比对的基础;待测物,具有对应校正样版之二标记,为提供二标记与待测物之相对位置;单镜头摄影机,为提供撷取校正样版之二标记与待测物之相对位置以供进行景深调整、或将二标记与待测物之相对位置转为画素距离提供多轴定位平台进行位移距离。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该单镜头摄影机撷取校正样版上的二标记之样版影像的影像与画素距离进行单镜头摄影机外部参数的校正、单镜头摄影机至待测物间距离的归零、以及待测物于单镜头摄影机上之相对位置的量测。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版可选自二圆形之标记,量测二圆形中心所连接之直线,与单镜头摄影机影像画面之左右水平方向夹角角度小于正负90度的场合。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版可选自一圆形与一方形之标记,量测圆形中心与方形中心所连接之直线,与单镜头摄影机影像画面之左右水平方向夹角角度小于或等于正负3度的场合。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版可选自一圆形与一线条之标记,量测圆形中心至直线的最短垂直距离所连接之直线,与单镜头摄影机影像画面之左右水平方向夹角旋转角度小于正负180度的场合。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版可选自二任意图形之标记,二任意图形可为多边形、字母、数字或不规则形状之图形,该图形需可在单镜头摄影机中清楚辩识画素,量测二任意图形中心所连接之直线,与单镜头摄影机影像画面之左右水平方向夹角角度小于或等于正负3度的场合。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版之标记可选自二圆、一圆一方、一圆一直线或二任意图形等方式实施,二任意图形可为多边形、字母、数字或不规则形状之图形,该图形需可在单镜头摄影机中清楚辩识画素。如申请专利范围第b>1/b>项所述之多轴摄影机校正样版装置,其中该校正样版之标记可选自三圆、二圆一方、二圆一直线或三任意图形等方式实施,二任意图形可为多边形、字母、数字或不规则形状之图形,该图形需可在单镜头摄影机中清楚辩识画素。
地址 彰化县田尾乡新兴路299巷22号