一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构

摘要

本发明公开了一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构，包括托板，及安装在托板上的遮光罩，该遮光罩位于玻璃钝化工艺二极管测试头正下方，在所述托板上还装有三维托针调节架，三维托针调节架针尖与遮光罩中心重合，还包括有三维弹片调节架固定在托板上，使三维弹片调节架与遮光罩对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头触点正下方，在所述三维弹片调节架之间设有防护架，该防护架安装在托板上，并位于遮光罩的正上方。测试头吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架针尖接触，该触点与三维弹片调节架上托臂触点接触形成闭合回路，三维托针调节架针尖与三维弹片调节架触点与测试仪器两极连接，完成测试头上的裸芯粒测试。

主权项

一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构,其特征是：托板（5），及安装在托板(5)上的遮光罩(3)，该遮光罩(3)位于玻璃钝化工艺二极管测试头A正下方，在所述托板(5)上还装有三维托针调节架(1)，三维托针调节架(1)针尖与遮光罩(3)中心重合，还包括有三维弹片调节架(2)固定在托板(5)上，使三维弹片调节架(2)与遮光罩（3）对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头A触点正下方，在所述三维弹片调节架（2）之间设有防护架（4），该防护架（4）安装在托板（5）上，并位于遮光罩（3）的正上方。