| 摘要 |
1. Система (300) для реконструкции изображений исследуемого объекта (301), содержащая: ! по меньшей мере, одну передающую катушку (312, 314), сконфигурированную с возможностью генерирования первичного магнитного поля, прикладываемого к исследуемому объекту; и ! по меньшей мере, одну компоновку (315, 317) измерительных катушек, сконфигурированную с возможностью измерения электрических сигналов, индуцируемых вторичным магнитным полем, которое сгенерировано исследуемым объектом в ответ на первичное магнитное поле; ! при этом, по меньшей мере одна компоновка (315, 317) измерительных катушек содержит множество измерительных катушек (201, 202, 203, 204), которые расположены, по существу, в одной и той же плоскости. ! 2. Система по п.1, дополнительно содержащая процессор (320) для реконструкции изображений исследуемого объекта на основании измеряемых электрических сигналов, индуцируемых вторичным магнитным полем, при этом процессор имеет блок (322) управления, сконфигурированный с возможностью управления каждой из множества измерительных катушек, чтобы измерять первый и второй электрические сигналы на катушке. ! 3. Система по п.2, в которой первый и второй электрические сигналы представляют собой индуцируемые напряжения, а процессор дополнительно содержит первый блок (324) выбора, сконфигурированный с возможностью выбора измерительной катушки из множества измерительных катушек, при этом выбранная измерительная катушка имеет наибольшее абсолютное значение отношения разностного напряжения между первым и вторым напряжениями к первому напряжению на катушке. ! 4. Система по п.2, в которой первый и второй электрические сигналы представляют собо |
