发明名称 | X射线探测器的校准方法 | ||
摘要 | 本发明总体上涉及一种X射线探测系统的校准方法,所述系统至少包括X射线发生器和探测组件,所述探测组件包括半导体探测器像素矩阵(10)以及处理和校准电子设备(20,21,22,23)。 | ||
申请公布号 | CN102725659A | 申请公布日期 | 2012.10.10 |
申请号 | CN201080062557.8 | 申请日期 | 2010.11.30 |
申请人 | 原子能和能源替代品委员会 | 发明人 | F·格拉塞尔;M·加尔桑 |
分类号 | G01T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G01T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;王锦阳 |
主权项 | 一种X射线探测系统的校准方法,所述系统至少包括一个X射线发生器和探测阵列,所述探测阵列包括探测半导体像素矩阵(10)以及处理和校准电子设备(20,21,22,23),其特征在于,对于所有或一些像素所述校准方法包括以下各个步骤:‑以额定高电压运行所述X射线发生器,所述发生器与所述探测器对置;‑使用所述处理和校准电子设备,经由发生器所产生的辐射效应,对每一个像素所发出的脉冲进行计数;‑为每一像素建立被计数脉冲的振幅分布;‑将统计指标应用于每一个振幅分布,以识别对应于与所述统计指标关联的能量的特定振幅,与所述振幅分布有关的所述统计指标为所述分布的百分点或均值;以及‑使用处理和校准电子设备调整每一个像素的校准参数,从而将由此建立的能量‑振幅关系考虑在内。 | ||
地址 | 法国巴黎 |