发明名称 Automatische Analysevorrichtung und automatisches Analyseverfahren
摘要 Hinsichtlich der Beförderung von Probenbehältern in einer automatischen Analysevorrichtung wird eine Technik vorgeschlagen, mit der Probenbehälter mit Proben mit einem hohen Grad an Dringlichkeit, die bevorzugt analysiert werden sollen, in kurzer Zeit zu einer Probenabgabeposition gebracht werden. Zwischen einem Gestell-Fördermodul (4) und einem Gestell-Fördermodul (5) zum Befördern von Gestellen (2), auf denen Probenbehälter (1) angeordnet sind, ist eine Gestell-Puffereinheit (8) vorgesehen, die als Probenbehälter-Austauscheinheit dient. Es ist auch ein Lademodul (7) für dringende Proben vorgesehen, auf dem ein Gestell (2) angeordnet wird, in dem sich ein Probenbehälter (1) befindet, der eine Probe enthält, die bevorzugt zu analysieren ist. Das Gestell (2), das bevorzugt zu analysieren ist, wird von der Gestell-Puffereinheit (8) gegen das Gestell (2) ausgetauscht, das sich im Prozeß der Probenabgabe befindet, so daß der Probenbehälter (1) am Gestell (2), der bevorzugt zu analysieren ist, in kurzer Zeit zur Probenabgabeposition gebracht wird.
申请公布号 DE112010000822(T5) 申请公布日期 2012.05.31
申请号 DE20101100822T 申请日期 2010.01.25
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 KOMATSU, HIDENOBU;KAWAHARA, TETSUJI;WADA, KENTARO;KAMBARA, KATSUHIRO
分类号 G01N35/02 主分类号 G01N35/02
代理机构 代理人
主权项
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