发明名称 一种新型的双bit线SONOS单元结构及其制作方法
摘要 本发明提供了一种新型的双bit线SONOS单元结构及其制作方法,实现一个SONOS存储单元可以保存双bit线的数据,这样在不改变器件尺寸的前提下,就可以使存储容量提高一倍。而且这种结构引用STI(浅沟道隔离)的理念,将同一单元的2个bit线进行物理隔绝,从而阻止了bit线间电荷横向扩散,进一步实现了准确确定每个bit线的开关状态,对存储单元的每个bit数据的耐久性及电荷保持性都得到改善。
申请公布号 CN102446862A 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CN201110250278.0 申请日期 2011.08.29
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 黄奕仙;杨斌;郭明升
分类号 H01L21/8247(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I;H01L29/792(2006.01)I 主分类号 H01L21/8247(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种新型的双bit线SONOS单元结构的制作方法,其特征在于,步骤包括:步骤1,在硅基底上方依次沉积氧化硅层、储存层、阻挡层和栅极多晶硅层,制备出SONOS栅极基体;步骤2,在所述SONOS栅极基体上进行光刻胶涂布和显影,露出栅极基体中间部分,刻蚀栅极基体露出的部分至硅基底,形成贯穿栅极基体两端的沟槽,去除剩余的光刻胶;步骤3,在所述沟槽内表面、以及剩余栅极基体上表面沉积氧化硅阻挡层;步骤4,沉积多晶硅,对沟槽进行填充;步骤5,去除步骤4中沉积的多晶硅和步骤3中沉积氧化硅阻挡层至与剩余栅极基体上表面,使步骤4中沉积的多晶硅和步骤3中沉积氧化硅阻挡层上表面与剩余栅极基体上表面处于同一平面内;步骤6,在剩余栅极基体上表面进行光刻胶涂布、显影和刻蚀形成SONOS多晶硅栅极。
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