液晶元件的光学参数量测方法及光学参数量测装置

摘要

一种液晶元件的光学参数量测方法，包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射液晶元件局部面积的偏振光束；(B)使该光束依序通过一相位延迟片与待测的液晶元件，并将穿透液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；(C)连续地以一预定角度旋转该相位延迟片，并每旋转一次就撷取该平行偏振光束所产生的第一图像画面，以及该垂直偏振光束所产生的第二图像画面；(D)分析所述第一图像画面与所述第二图像画面，以获得该平行偏振光束与该垂直偏振光束两者的光强度比值；(E)依据所述光强度比值，求得液晶元件局部面积的光学参数二维空间分布。

主权项

一种液晶元件的光学参数量测方法，其特征在于：该光学参数量测方法包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射该液晶元件局部面积的单一波长偏振光束；(B)提供一相位延迟片，使该光束垂直穿透该液晶元件前，先通过该相位延迟片以使该光束产生相位延迟和偏振状态改变，并提供一偏振分光器，使垂直穿透该液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；(C)使该相位延迟片连续旋转，并且该相位延迟片每旋转一预定角度就由一第一图像撷取器撷取该平行偏振光束所产生的第一图像画面，以及由一第二图像撷取器撷取该垂直偏振光束所产生的第二图像画面；(D)由一图像处理模块在对应该液晶元件相同位置分析所述第一图像画面与所述第二图像画面，以获得该平行偏振光束与该垂直偏振光束两者在该相位延迟片每旋转一次该预定角度时的光强度比值；(E)由一运算处理模块依据所述光强度比值分布，求得该液晶元件局部面积的光学参数二维空间分布。