发明名称 Method of plating a copper in a semiconductor device
摘要 <p>본 발명은 반도체 소자의 구리 도금 방법에 관한 것으로, 하부 패턴에 완전히 증착되는 범위내에서 최소한의 두께로 구리 시드층을 증착하고 NH표면 처리를 실시한 후 구리를 도금함으로써 균일한 구리 도금이 가능하고, 어닐시 구리 도금막내의 마이크로 보이드를 감소시킬 수 있어 소자의 스트레스 마이그레이션(stress migration) 특성을 향상시킬 수 있는 반도체 소자의 구리 도금 방법이 제시된다.</p>
申请公布号 KR101069247(B1) 申请公布日期 2011.10.04
申请号 KR20040050405 申请日期 2004.06.30
申请人 发明人
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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