发明名称 工件形状测量方法以及具有机上测量装置的机床
摘要 一种具有机上测量装置,用数值控制装置控制的机床中的工件的形状测量方法,在工件上预先决定用于温度漂移修正的基准点,把探头向该基准点移动,复位探头的坐标系,修正探头的温度漂移,首先,沿第一测量路径进行工件的形状测量。接着,再把探头移动到基准点,复位探头的坐标系,再次修正探头的温度漂移,沿第二测量路径进行工件的形状测量。以下,在沿最后的测量路径进行工件的形状测量之前,对于每一条测量路径进行同样的温度漂移修正。
申请公布号 CN102198607A 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN201010144609.8 申请日期 2010.03.23
申请人 发那科株式会社 发明人 洪荣杓;蛯原建三;山本明;羽村雅之
分类号 B23Q17/20(2006.01)I;G01B21/20(2006.01)I;G01D3/028(2006.01)I 主分类号 B23Q17/20(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 许静
主权项 一种使用在机床上搭载的机上测量装置的工件形状测量方法,其特征在于,所述机上测量装置具有接触式探头和探头位置检测装置,所述接触式探头具有测量头并且由流体轴承支承,所述探头位置检测装置检测该接触式探头的移动位移并输出测量位置数据,并且,所述机上测量装置把从所述探头位置检测装置输出的探头位置数据与从检测所述机床的各轴的位置的轴位置检测装置输出的轴位置数据一起输入数值控制装置,所述工件形状测量方法具有以下步骤:在所述工件或者与该工件分体的虚设工件上预先决定用于温度漂移修正的基准点的步骤;使所述接触式探头的测量头一边与所述工件接触一边沿多条直线状或者曲线状的测量路径扫描,来进行这些测量路径的每一条测量路径的形状测量的步骤;在所述每一条测量路径的形状测量中,在进行一条测量路径的形状测量之前,使所述探头的测量头移动到所述基准点,使所述探头的测量头接触该基准点的步骤;和使用所述数值控制装置具有的工件坐标系设定功能,把在使所述测量头接触所述基准点时从所述探头位置检测装置输出的所述探头位置数据设定为预先决定的值,由此设定所述接触式探头的坐标的基准值,修正所述机上测量装置的温度漂移的步骤。
地址 日本山梨县