发明名称 |
信息记录介质、记录方法和再生方法 |
摘要 |
本发明的目的在于,在多个记录层分别具备的记录学用的区域(记录学区域或测试区域)上进行功率学和策略学等记录学(测试记录)时,使其给其他记录层上的记录学带来的影响最小化。在本发明的记录介质中,利用从一个面入射的激光在多个记录层中的至少1层上记录数据。多个记录层包含第1记录层、和在从第1记录层到激光入射的入射面的方向上,按顺序配置的第2~第N记录层(N为3以上的整数)。多个记录层分别具备:第1学区域、和比第1学区域更位于外周侧的第2学区域。在第1~第N记录层的各个上所配置的第1学区域被配置于与其他记录层的第1记录学区域不同的半径位置,在第1~第N记录层的各个上所配置的第2学区域被配置于与其他记录层的第2记录学区域相同的半径位置。 |
申请公布号 |
CN102165523A |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN200980138143.6 |
申请日期 |
2009.09.18 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
高桥宜久;植田宏;伊藤基志 |
分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I;G11B7/007(2006.01)I;G11B7/125(2006.01)I;G11B7/24(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
一种信息记录介质,其利用从一个面入射的激光在多个记录层中的至少1层上记录数据,所述信息记录介质的特征在于,所述多个记录层包含第1记录层、和在从所述第1记录层到所述激光入射的入射面的方向上,按顺序配置的第2~第N记录层,其中,N为3以上的整数,所述多个记录层分别具备:第1学习区域、和比所述第1学习区域更位于外周侧的第2学习区域,在所述第1~第N记录层的各个上所配置的所述第1学习区域被配置于与其他记录层的第1记录学习区域不同的半径位置,在所述第1~第N记录层的各个上所配置的所述第2学习区域被配置于与其他记录层的第2记录学习区域相同的半径位置。 |
地址 |
日本大阪府 |