| 主权项 |
一种同轴电缆单元，向元件提供由电源产生的电流，包括：拥有第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；拥有第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆与第二同轴电缆互相独立的设置。如申请专利范围第1项所述之同轴电缆单元，其中：前述第一内部导体及前述第二外部导体相互并联，使电流从前述电源向前述元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体相互并联，使电流从前述元件向前述电源方向流动。如申请专利范围第1项所述之同轴电缆单元，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆屏蔽在一起。一种同轴电缆单元，向元件提供由电源产生的电流，包括：拥有第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；拥有第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆分别屏蔽。一种测试装置，对被测元件进行测试，包括：产生电流的电源；将前述电源产生的电流向前述被测元件提供之同轴电缆单元；当电流提供到前述被测元件时，检测在被测元件上的施加电压之检测部；以及基于由前述检测部检测出的电压，判断前述被测元件是否良好之判定部；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述被测元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述被测元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆与第二同轴电缆互相独立的设置。一种测试装置，对被测元件进行测试，包括：产生电流的电源；将前述电源产生的电流向前述被测元件提供之同轴电缆单元；检测由前述电源产生且施加在前述被测元件上的前述电流之检测部；以及基于由前述检测部检测出的电流，判断前述被测元件是否良好之判定部；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述被测元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述被测元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆与第二同轴电缆互相独立的设置。一种测试装置，对被测元件进行测试，包括：产生向前述被测元件提供测试信号模式之模式发生部；产生向前述被测元件提供测试信号的时序之时序发生部；基于前述模式发生部生成的模式及前述时序发生部生成的前述时序，形成前述测试信号波形之波形成形部；向前述被测元件提供由前述波形成形部形成波形的前述测试信号之驱动器；对应于所提供的前述测试信号，使前述被测元件的输出信号与基准电压进行比较之比较器；藉由将前述比较器的比较结果与期望值进行比较，判断前述被测元件是否良好之逻辑比较部；产生向前述被测元件提供的电流之电源；以及将前述电源产生的电流向前述被测元件提供之同轴电缆单元；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述被测元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述被测元件向前述电源方向流动。一种CPU系统，由电源产生的电流驱动，包括：基于程式进行运算处理之CPU；将前述电源产生的电流向前述CPU提供之同轴电缆单元；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述CPU方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述CPU向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆与第二同轴电缆互相独立的设置。如申请专利范围第8项所述之CPU系统，其中：前述第一内部导体及前述第二外部导体相互并联，使电流从前述电源向前述元件方向流动，以及前述第一外部导体及前述第二内部导体相互并联，使电流从前述元件向前述电源方向流动。如申请专利范围第8项所述之CPU系统，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆屏蔽在一起。一种CPU系统，由电源产生的电流驱动，包括：基于程式进行运算处理之CPU；将前述电源产生的电流向前述CPU提供之同轴电缆单元；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述CPU方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述CPU向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆各自分别屏蔽。一种测试装置，对被测元件进行测试，包括：产生电流的电源；将前述电源产生的电流向前述被测元件提供之同轴电缆单元；当电流提供到前述被测元件时，检测在被测元件上的施加电压之检测部；以及基于由前述检测部检测出的电压，判断前述被测元件是否良好之判定部；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述被测元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述被测元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆分别屏蔽。一种测试装置，对被测元件进行测试，包括：产生电流的电源；将前述电源产生的电流向前述被测元件提供之同轴电缆单元；检测由前述电源产生且施加在前述被测元件上的前述电流之检测部；以及基于由前述检测部检测出的电流，判断前述被测元件是否良好之判定部；前述同轴电缆单元拥有：包含第一内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第一内部导体周围的第一外部导体之第一同轴电缆；包含第二内部导体，及间隔着绝缘体设置在前述第二内部导体周围的第二外部导体之第二同轴电缆；前述第一内部导体及前述第二外部导体使电流从前述电源向前述被测元件方向流动；以及前述第一外部导体及前述第二内部导体使电流从前述被测元件向前述电源方向流动，其中前述第一同轴电缆及前述第二同轴电缆分别屏蔽。 |
