发明名称 |
半导体装置 |
摘要 |
本发明提供一种半导体装置,包含一具有一顶部表面的中介物,及一凸块位于此中介物的顶部表面上。一开口,自此中介物的顶部表面延伸至此中介物中。一第一裸片与此凸块接合。一第二裸片,位于此中介物的开口中,并与此第一裸片及此第二裸片接合。本发明可避免因形成硅穿孔所导致的良率损失,并可缩短所需的制造周期。 |
申请公布号 |
CN102148220A |
申请公布日期 |
2011.08.10 |
申请号 |
CN201110031017.X |
申请日期 |
2011.01.25 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
胡宪斌;余振华;赖隽仁;陈明发 |
分类号 |
H01L25/00(2006.01)I;H01L25/065(2006.01)I;H01L23/48(2006.01)I |
主分类号 |
H01L25/00(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
张浴月;刘文意 |
主权项 |
一种半导体装置,包括:一中介物,包含一顶部表面;一第一凸块,位于该中介物的顶部表面上;一开口,自该顶部表面延伸至该中介物中;一第一裸片,与该第一凸块接合;以及一第二裸片,位于该开口中并与该第一裸片接合。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |