光插回损测试仪

摘要

本发明涉及一种光插回损测试仪，包括：双波长激光器；所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接；光偶合器经光路与法兰连接；所述法兰经光路与光偶合器相连；光偶合器经光路与第二探测器相连；所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连；所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连；放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连；本发明的有益效果是：运行速度快，工作性能强，集多表功能为一身，操作简单，测试结果误差小，结构简单，成本低，同时体积小便于携带，显示直观。

主权项

一种光插回损测试仪，其特征在于包括：双波长激光器；所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接；光偶合器经光路与法兰连接；所述法兰经光路与光偶合器相连；光偶合器经光路与第二探测器相连；所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连；所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连；放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连。