发明名称 多晶体中各组成晶粒的晶体取向和微观力学性能测定方法
摘要 本发明公开了一种多晶体中各组成晶粒的晶体取向和微观力学性能测定方法,包括以下步骤:(1)用浸蚀方法处理试样待测表面;(2)对试样待测表面进行显微组织观察;(3)用电解抛光方法处理试样待测表面;(4)再次对试样待测表面进行观察,确认多晶体试样的晶界是否可见;(5)针对晶界可见和晶界不可见两种情况,在试样待测表面刻划不同的网格;(6)对于晶界可见和晶界不可见两种试样,在试样待测表面进行不同顺序的纳米压入与电子背散射衍射测试;(7)将测得的各晶粒的晶体取向、杨氏模量和硬度的有效数据进行分析。
申请公布号 CN101532970B 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN200810034471.9 申请日期 2008.03.11
申请人 宝山钢铁股份有限公司 发明人 王秀芳;杨晓萍;宋洪伟;郭振丹;季思凯;王国栋
分类号 G01N23/207(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I 主分类号 G01N23/207(2006.01)I
代理机构 上海东信专利商标事务所 31228 代理人 杨丹莉
主权项 一种多晶体中各组成晶粒的晶体取向和微观力学性能测定方法,其特征在于包括以下步骤:(1)用浸蚀方法处理试样待测表面,执行步骤(2);(2)对试样待测表面进行显微组织观察,执行步骤(3);(3)用电解抛光方法处理试样待测表面,执行步骤(4);(4)再次对试样待测表面进行观察,确认多晶体试样的晶界是否可见,如晶界可见,执行步骤(5);如晶界不可见,执行步骤(6);(5)在试样待测表面刻划若干相互平行的矩形网格,每个网格所包含的单元格数不超过10个,单元格边长为待测试样晶粒平均直径的2~30倍,各网格之间用长的横线和竖线分隔开;在网格的旁边,用平行于网格某一边的单向箭头标出网格的排布方向;将在试样待测表面所刻划的网格、分隔线,以及箭头重现在标记图上,并对每个单元格进行编号,在扫描电子显微镜下寻找划格区域进行电子背散射衍射测试,然后对不同取向晶粒进行纳米压入测试,执行步骤(7);(6)在试样待测表面刻划若干相互平行的横线和竖线,且0<平行线间距<10mm;在横线或竖线的旁边,用平行于二者之一的单向箭头标出横线和竖线的排布方向;将在试样待测表面所刻划的横线和竖线及其所形成的网格和格点,以及箭头重现在标记图上,并对每个格点周围临近的四个区域进行编号,在格点附近区域进行纳米压入测试,然后在扫描电子显微镜下寻找压痕,对压痕点所在晶粒进行电子背散射衍射测试,执行步骤(7);(7)将测得的各晶粒的晶体取向、杨氏模量和硬度的有效数据进行分析。
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