发明名称 一种物件低温下密封性能快速检测的装置
摘要 本发明公开了一种物件低温下密封性能快速检测的装置,包括有基座,所述基座顶部具有通气凹槽,所述通气凹槽上方覆盖设置有一个待测样品,所述待测样品底面与所述基座顶部之间具有密封垫圈,所述待测样品的顶部设置有压紧工装,所述待测样品顶面与压紧工装之间具有一个密封垫圈;所述压紧工装底部具有通气凹槽,该压紧工装底部的通气凹槽与待测样品顶部相连通;所述基座顶部的通气凹槽与一个气体分子质谱检漏仪相连通,所述压紧工装底部的通气凹槽与气源相连通。本发明公开的物件低温下密封性能快速检测的装置,可在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密封性能进行检测,检测获知采用橡胶密封的产品零部件在低温条件下的密封性能。
申请公布号 CN102121868A 申请公布日期 2011.07.13
申请号 CN201010595005.5 申请日期 2010.12.20
申请人 天津力神电池股份有限公司 发明人 赵程;邱慧敏;薛龙均;王金勇;王广华
分类号 G01M3/20(2006.01)I 主分类号 G01M3/20(2006.01)I
代理机构 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人 闫俊芬
主权项 一种物件低温下密封性能快速检测的装置,其特征在于,包括有基座(4),所述基座(4)顶部具有通气凹槽(10),所述通气凹槽(10)上方覆盖设置有一个待测样品(7),所述待测样品(7)底面与所述基座(4)顶部之间具有密封垫圈(3),所述待测样品(7)的顶部设置有压紧工装(1),所述待测样品(7)顶面与压紧工装(1)之间具有一个密封垫圈(3);所述压紧工装(1)底部具有通气凹槽(10),该压紧工装(1)底部的通气凹槽(10)与待测样品(7)顶部相连通;所述基座(4)顶部的通气凹槽(10)与一个气体分子质谱检漏仪(9)相连通,所述压紧工装(1)底部的通气凹槽(10)与气源(6)相连通。
地址 300384 天津市西青区滨海高新技术产业开发区(环外)海泰南道38号
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