发明名称 一种阴影检测方法及装置
摘要 本发明公开了一种阴影检测方法及装置,本发明方案综合考虑了阴影的纹理特性和颜色特性,并利用他们的联合概率分布来对阴影进行检测,减少了噪声以及其他因素对阴影检测的干扰,从而提高了阴影检测的正确性,保证阴影检测的稳定性。
申请公布号 CN101324927B 申请公布日期 2011.06.29
申请号 CN200810116871.4 申请日期 2008.07.18
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 谌安军
分类号 G06K9/62(2006.01)I;G06T7/20(2006.01)I 主分类号 G06K9/62(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 王琦;王诚华
主权项 1.一种阴影检测方法,其特征在于,该方法包括:A.对图像进行目标检测获得背景点和前景点,并利用检测出的背景点对已建立的背景模型进行更新;B1.计算所述检测出的背景点与前景点的颜色比率,并根据计算出的颜色比率获取该背景点与前景点的颜色比率满足的颜色概率分布P(α),其中,α为所述颜色比率;B2.根据公式diff(i)=LoG<sub>i</sub>-LoG<sub>RL</sub>计算目标像素点的高斯拉普拉斯值差值diff(i),其中,<img file="FSB00000030876500011.GIF" wi="673" he="150" />i表示某目标像素点,BL表示背景点,r为目标像素点距离中心点的距离,σ<sub>2</sub>为高斯函数带宽;根据计算出的高斯拉普拉斯值差值获取该目标像素点的高斯拉普拉斯值差值满足的纹理概率分布P(diff),其中,diff为所述目标像素点的高斯拉普拉斯值差值;B3.根据公式P(diff,α)=P(diff)P(α)获取目标像素点的纹理概率分布的联合概率密度P(diff,α);在得到的联合概率密度小于预设阈值时,判定目标像素点为阴影点。
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