用于通过单视角背照射逆光照相法不接触式测量具有两层的三维物体的方法

摘要

根据本发明，为了不接触式测量中空三维物体(32)，该物体对可见光是半透明的或者透明的，沿着观察轴(34)通过用可见光观察该物体通过单视角背照射逆光照相法获取该物体的图像，该图像包括至少一个发光线，建立一个将物体的至少一个光学几何参数与该发光线的至少一个几何参数联系起来的方程式，确定该几何参数，以及借助于该方程式和由此确定的几何参数确定光学几何参数。

主权项

一种用于不接触式测量具有内壁(18)的中空三维物体(8，32，46，54，56)的方法，所述物体包括外层(12)和内层(10)，所述物体对可见光是半透明的或者透明的，所述方法的特征在于，通过单视角背照射逆光照相法，沿着第一观察轴(34)，通过用可见光观察所述物体，获取所述物体的图像，所述图像包括至少一条发光线，建立将所述物体的至少一个光学几何参数和所述发光线的至少一个几何参数联系起来的方程式，确定所述发光线的所述几何参数，以及借助于所述方程式和由此确定的几何参数来确定所述光学几何参数，其中，从上述物体的图像和所述方程式，进行所述物体的内壁(18)在靠近所述物体的赤道的区域上的三维重显，所述重显提供第一组数据，确定所述物体的所述内层(10)的厚度，从由此确定的厚度确定与所述内层的变形相关的第二组数据，以及借助于所述第一组数据和第二组数据进行所述物体的整个内壁(18)的重显。