| 发明名称 | 非接触式探头和测量机 | ||
| 摘要 | 本发明提供非接触式探头和测量机。测量机(1)具有以非接触的方式检测阶梯规的非接触式探头(2)。非接触式探头(2)包括射出光的发光元件(4)、接受自发光元件(4)射出的光的受光元件(5)和将到达受光元件(5)的光路遮挡起来的光学滤光片(6)。光学滤光片(6)具备透过频带和阻断频带，上述透过频带能够使自发光元件(4)射出的光透过，上述阻断频带用于阻断受光元件(5)具有灵敏度的光。 | ||
| 申请公布号 | CN102062585A | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN201010547849.2 | 申请日期 | 2010.11.15 |
| 申请人 | 株式会社三丰 | 发明人 | 松原弘宗 |
| 分类号 | G01B11/14(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人 | 刘新宇;张会华 |
| 主权项 | 一种非接触式探头，该探头包括射出光的发光元件和接受自上述发光元件射出的光的受光元件，该非接触式探头根据上述受光元件所接受到的光以非接触的方式检测对象物，其特征在于，该探头具有将到达上述受光元件的光路遮挡起来的光学滤光片；上述光学滤光片具备透过频带和阻断频带，上述透过频带能够使自上述发光元件射出的光透过，上述阻断频带用于阻断上述受光元件具有灵敏度的光。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||