发明名称 |
内存IC检测分类机 |
摘要 |
本发明是一种内存IC检测分类机,包含设在机台前端的供料匣、至少一个收料匣与第一移料装置,设在机台后端的至少一个测试装置、热测室装置与第二移料装置,以及设在供、收料匣与测试装置间的转运装置;转运装置在供、收料匣与测试装置间载送待测/完成检测的内存IC,第二移料装置则在转运装置与测试装置间移载数个待测/完成检测的内存IC,各测试装置设有具数个测试套座的测试电路板,而在上方设有具数个取置头的压接机构,用以一次检测数个待测的内存IC,热测室装置罩覆在各测试装置的外部,用以使各测试装置可在高温环境中执行检测作业。本发明可有效缩短各装置的运作时间,而大幅增加内存IC的检测数量,达到提升使用效率与产能的效益。 |
申请公布号 |
CN101308707B |
申请公布日期 |
2011.04.06 |
申请号 |
CN200710107920.3 |
申请日期 |
2007.05.15 |
申请人 |
鸿劲科技股份有限公司 |
发明人 |
林锡义;杨家彰 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I;G01R31/01(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
代理人 |
孙皓晨 |
主权项 |
一种内存IC检测分类机,包括机台,其特征在于,还包含:供料匣:设在机台的前端,用以承置待测的内存IC;收料匣:设在机台的前端,用以承置完成检测的内存IC;第一移料装置:设在机台的前端,并设有具数个吸头的取放器,用以一次移载数个待测/完成检测的内存IC;多个测试装置:设在机台的后端,所述多个测试装置并设有具数个测试套座的测试电路板;第二移料装置:设在机台的后端,具有可左右横移至各测试装置的载台,用以一次移载数个待测/完成检测的内存IC至测试装置与转运装置;转运装置:设在供、收料匣与测试装置间,并以循环交替的机构载送数个待测/完成检测的内存IC,所述循环交替的机构是在前端交换端设有第一升降机构,后端测试端则设有第二升降机构,另在前、后端位置间设有位于不同高度的第一、二平移机构,且第一、二平移机构分别可移动在前、后端位置的载台,以载送待测/完成检测内存IC;中央处理器:用以控制与整合各装置运作,以执行自动化作业。 |
地址 |
中国台湾 |