发明名称 光学式气体浓度感测器
摘要
申请公布号 TWI334024 申请公布日期 2010.12.01
申请号 TW095149390 申请日期 2006.12.28
申请人 私立中原大学 发明人 熊慎干;周荣泉;孙台平;邹年烜;赖致玮
分类号 G01N21/77 主分类号 G01N21/77
代理机构 代理人 吴家业 台北市大安区新生南路1段143之1号3楼
主权项 种光学式气体浓度感测器,该光学式气体浓度感测器包含:一气体选择装置,其中容置于一容器内之一待测液体内所含气体扩散进入该气体选择装置;一指示剂,该指示剂系位于该气体选择装置内,其中该指示剂与扩散进入该气体选择装置之该气体反应;一光源,该光源系位于该气体选择装置之一侧;与一光检器,该光检器系位于该气体选择装置另一侧,其中该光源与该光检器系位于该气体选择装置之相对侧。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该气体选择装置更包含一滤光装置,该滤光装置包含一开口并且位于该光源与该光检器之间,其中该光源与该光检器间之光路通过该滤光装置之该开口。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该气体选择装置系为一具透光性之材质。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该气体选择装置之材质为矽胶。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该气体选择装置包含一气体选择膜,该待测液体内所含气体系经由该气体选择膜扩散进入该气体选择装置。根据申请专利范围第5项之光学式气体浓度感测器,其中该气体选择膜系浸泡于该待测液体中。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该光源包含下列族群之一:雷射光源、发光二极体光源。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该光源为之波长约为525nm。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该光检器系为一光转电位光检器。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该指示剂系藉由碳酸氢盐溶液缓冲酸响应。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该指示剂包含:通用指示剂。根据申请专利范围第1项之光学式气体浓度感测器,其中该光学式气体浓度感测器更包含一动力流装置,该动力流装置系将位于该光源与光检器之光路间之与该气体反应过之该指示剂替换成未与该气体反应之该指示剂。一种光学式气体浓度感测之方法,包含:容置一气体选择装置之一部份于一容器之一待测液体内,其中该气体选择装置包含一气体选择膜与一指示剂,使得该待测液体所含之一气体透过该气体选择膜扩散进入该气体选择装置与该指示剂接触;以一光源照射该气体选择装置;以一光检器接收由该光源所照射该气体选择装置所透出的一光线;依据该光检器所接受之该光线的强度判断该气体之浓度。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,更包含利用一动力流装置系将位于该光源与光检器之光路间之与该气体反应过之该指示剂替换成未与该气体反应之该指示剂之方法。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该气体选择装置更包含一滤光装置,该滤光装置包含一开口并且位于该光源与该光检器之间,其中该光线通过该滤光装置之该开口。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该气体选择装置之材质为矽胶。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该光源包含下列族群之一:雷射光源、发光二极体光源。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该光源为之波长约为525nm。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该光检器系为一光转电位光检器。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该指示剂系为一酸硷指示剂。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该指示剂系藉由碳酸氢盐溶液缓冲酸响应。根据申请专利范围第13项之光学式气体浓度感测之方法,其中该指示剂包含:通用指示剂。
地址 桃园县中坜市中北路200号
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