发明名称 采用MOCVD制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法
摘要 本发明公开了一种制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法,该方法采用金属有机化合物气相外延工艺,具体步骤如下:选择一衬底;在该衬底上生长一层非极性GaN薄膜;以及在该非极性GaN薄膜上生长非极性GaN基稀磁半导体材料。利用本发明,能够获得具有高居里温度(Tc)的高质量单晶相非极性GaN基稀磁半导体薄膜材料。此外,非极性GaN基稀磁半导体薄膜材料具有独特的面内各向异性分布特性(结构、光学、电学和磁学性质),这些性质无论对基础研究还是应用研究都具有重大意义,本发明将开辟GaN基稀磁半导体研究的新领域。
申请公布号 CN101899706A 申请公布日期 2010.12.01
申请号 CN201010201505.6 申请日期 2010.06.09
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 孙莉莉;闫发旺;张会肖;王军喜;王国宏;曾一平;李晋闽
分类号 C30B25/18(2006.01)I;C30B25/16(2006.01)I 主分类号 C30B25/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法,其特征在于,该方法采用金属有机化合物气相外延工艺,具体步骤如下:选择一衬底;在该衬底上生长一层非极性GaN薄膜;以及在该非极性GaN薄膜上生长非极性GaN基稀磁半导体材料。
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