发明名称 |
基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法 |
摘要 |
本发明涉及一种基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法。具体地说,涉及可应用于结构VLSI设计以解决与错误测试器交互模式生成关联的问题的诊断和特征描述工具以及在实现更高故障分辨能力的同时有效降低诊断测试时间的方法。经验故障数据驱动将故障定位到精确位置的自适应测试模式的创建。此过程将一直重复,直到实现了必要的定位。将故障签名和关联标注以及故障签名和自适应模式都存储到库中以促进诊断分辨能力。并行测试器应用和自适应测试生成提供了资源的有效使用,同时降低了整体测试和诊断时间。 |
申请公布号 |
CN101169465B |
申请公布日期 |
2010.09.22 |
申请号 |
CN200710167441.0 |
申请日期 |
2007.10.24 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
F·莫提卡;P·T·德兰;M·P·库斯科;T·J·弗莱斯曼 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 11247 |
代理人 |
于静;杨晓光 |
主权项 |
一种用于诊断和准确指出待测器件中的模型化和非模型化错误的根本原因的方法,所述方法包括以下步骤:a)通过应用一组测试模式来测试所述待测器件并在测试失败时存储签名,所述签名指示了所述待测器件中的故障;以及b)执行诊断模拟来获得错误标注,并通过将指示所述故障的签名和已存储的签名相比较来关联指示所述故障的签名;以及c)将与指示所述故障的签名关联的所述一组测试模式应用到所述待测器件。 |
地址 |
美国纽约 |