物质光学特性的检测系统

摘要

一种物质光学特性的检测系统，包括半导体泵浦源，沿该半导体泵浦源的激光输出方向依次是整形及耦合装置、二向色镜和光纤，所述的二向色镜与光路呈45°放置，所述的光纤靠近所述的二向色镜一端为平面称为近端平面，另一端为斜面称为远端斜面，待测物质液体小球置于所述的光纤的远端斜面上，在所述的二向色镜反射方向依次是准直透镜和光谱分析仪。本发明检测系统具有结构简单，荧光光谱强，易于检测等特点。

主权项

一种物质光学特性的检测系统，特征在于：其构成包括半导体泵浦源(101)，沿该半导体泵浦源(101)的激光输出方向依次是整形及耦合装置(102)、二向色镜(103)和光纤(104)，所述的二向色镜(103)与光路呈45°放置，所述的光纤(104)靠近所述的二向色镜(103)一端为平面称为近端平面，另一端为斜面称为远端斜面，待测物质液体小球(107)置于所述的光纤(104)的远端斜面上，在所述二向色镜(103)的反射方向依次是准直透镜(105)和光谱分析仪(106)；所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光的中心波长与待测物质(203)吸收波长重叠；所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光通过整形及耦合装置(102)后聚焦到所述的光纤(104)的近端平面，所述的待测物质液体小球(107)在所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光的激发下产生荧光并放大，该荧光由所述的光纤(104)的远端斜面输入、光纤(104)近端平面输出，经所述的二向色镜(103)反射经准直透镜(105)准直输入所述的光谱分析仪(106)。