| 发明名称 | 次声检测设备及检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种次声检测设备及检测方法，该检测设备包括光输入装置、分光镜、反射镜、检测镜、光检测元件及信号处理装置；检测镜通过次声振动环安装于基座上，检测镜与光输入装置相对，反射镜与光检测元件相对，检测镜与光输入装置的连线相对于反射镜与光检测元件的连线垂直，且检测镜与光输入装置的连线、反射镜与光检测元件的连线均相对于分光镜成45度角；光检测元件与信号处理装置电气连接。本发明结构简单，灵敏度高、抗干扰能力强。 | ||
| 申请公布号 | CN101788331A | 申请公布日期 | 2010.07.28 |
| 申请号 | CN201010102146.9 | 申请日期 | 2010.01.25 |
| 申请人 | 黄万平 | 发明人 | 黄万平;黄斌;郑辉;许湘苗;林晓虹 |
| 分类号 | G01H9/00(2006.01)I | 主分类号 | G01H9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 谢伟;曾旻辉 |
| 主权项 | 一种次声检测设备，其特征在于，包括光输入装置、分光镜、反射镜、检测镜、光检测元件及信号处理装置；检测镜通过次声振动环安装于基座上，检测镜与光输入装置相对，反射镜与光检测元件相对，检测镜与光输入装置的连线相对于反射镜与光检测元件的连线垂直，且检测镜与光输入装置的连线、反射镜与光检测元件的连线均相对于分光镜成45度角；光检测元件与信号处理装置电气连接。 | ||
| 地址 | 510006 广东省广州市番禺区大学城外环西路378号华南师范大学城校区 | ||