电子及电路板探测卡

摘要

本发明适用于电子及电路板探测领域。本发明公开一种电子及电路板探测卡，用于探测电子及电路板性能参数，电子及电路板探测卡，用于探测电子及电路板性能参数，该探测卡包括与检测设备连接的卡座和探测片，所述探测片为金属片，该探测片一端或两端固定在卡座上，其一端为探测端，另一端与检测设备连接。所述探测片为钢质片状结构，具有良好的刚性，在探测片受压与检测点紧密接触时，不容易发生变形，在多次使用后能保持形状的稳定性，因而始终能保持其探测端与探测点之间形成良好的电接触，提高检测结果的准确性，延长其使用寿命，降低用户检测成本。

主权项

电子及电路板探测卡，用于探测电子及电路板性能参数，该探测卡包括与检测设备连接的卡座和探测片，其特征在于：所述探测片为金属片，该探测片一端或两端与卡座固定，其一端为探测端，另一端与检测设备连接。