发明名称 |
多晶形铟锡氧化物薄膜以及多晶形铟锡氧化物电极的制造方法 |
摘要 |
一种多晶形铟锡氧化物薄膜的制造方法,首先,于一基材上形成一非晶形铟锡氧化物薄膜,接着进行一快速热退火制程,以将非晶铟锡氧化物薄膜转换为一多晶形铟锡氧化物薄膜。另外,本发明亦提出一种多晶形铟锡氧化物电极的制造方法,首先,于一薄膜电晶体阵列(TFT Array)基材上形成一非晶铟锡氧化物薄膜。接着,图案化此非晶铟锡氧化物薄膜,以于基材上形成多个非晶铟锡氧化物电极。之后,进行一快速热退火制程,以将多个非晶铟锡氧化物电极转换为多晶形铟锡氧化物电极。上述的制造方法可形成较佳平坦度之多晶形铟锡氧化物薄膜,并可缩短制程时间并提高产能。 |
申请公布号 |
TWI322461 |
申请公布日期 |
2010.03.21 |
申请号 |
TW093125996 |
申请日期 |
2004.08.30 |
申请人 |
元太科技工业股份有限公司 |
发明人 |
舒芳安 |
分类号 |
H01L21/20 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
|
代理人 |
蔡坤财 |
主权项 |
一种多晶形铟锡氧化物薄膜(poly-crystal ITO thin film)的制造方法,包括下列步骤:于一基材上形成一非晶形铟锡氧化物薄膜(amorphous ITO thin film);以及进行一快速热退火制程,以将该非晶形铟锡氧化物薄膜转换为一多晶形铟锡氧化物薄膜,其中该快速热退火制程系于400℃~700℃的条件下进行0.5分钟~6分钟。 |
地址 |
新竹市科学工业园区力行一路3号 |