电子器件试验装置

摘要

一种电子器件试验装置，具有：多个测试单元(520)；搬入移载单元(510)，在多个被试验电子器件被搬入测试单元之前从客户托盘(4C)向测试托盘(4T)进行移载；以及分类移载单元(530)，依照多个被试验电子器件的测试结果从测试托盘向客户托盘一边进行分类一边进行移载，其中，搬入移载单元被设置在多个测试单元中的至少最前级，并且分类移载单元被设置在多个测试单元中的至少最后级，测试托盘从多个测试单元的最前级到最后级以搭载了被试验电子器件的状态顺次进行搬运，并从最后级的测试单元返回到最前级的测试单元。

主权项

1.一种电子器件试验装置，其特征在于，具备：测试托盘，载置多个被试验电子器件并进行移送；多个测试单元，在测试单元内部移送上述测试托盘并使上述被试验电子器件与测试头侧的插座电气接触以进行电气试验；搬入移载单元，接受与上述测试托盘不同的其他搬运媒介或者同一构造的测试托盘并向上述测试托盘移载被试验电子器件来进行搬入；搬出移载单元，接受来自上述测试托盘的被试验电子器件并向上述其他搬运媒介或者同一构造的测试托盘移载来进行搬出；装载部，在上述测试单元内接受被搬入的上述测试托盘并向进行电气试验的测试部移送；卸载部，将在上述测试部中进行了电气试验的上述测试托盘搬出；以及电子器件移载部件，在与上述装载部之间接受上述测试托盘，并在与上述卸载部之间授受上述测试托盘，在上述多个测试单元之间将上述测试托盘作为媒介来移送上述被试验电子器件，上述搬入移载单元被连接到最前级的测试单元并向上述最前级的测试单元供给测试托盘，上述电子器件移载部件具备从上述测试托盘的载置被试验电子器件的贮器临时地保管被试验电子器件，或者将所保管的被试验电子器件向上述贮器载置的临时缓冲装置。