发明名称 金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法
摘要 本发明涉及一种金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法,首先采用mCRR传输线模型拟合在满足因果性、稳定性和线性条件下测量的电化学阻抗谱,其中m为正整数,C和R分别表示纯电容和纯电阻;然后根据公式f<sup>*</sup>=1/(2πC<sub>i</sub>R<sub>i</sub>)分别求出各C<sub>i</sub>和R<sub>i</sub>并联分支的特征频率f<sup>*</sup>,并作出在不同的系列研究条件下离散参数C<sub>i</sub>和R<sub>i</sub>随特征频率变化分布的对数图以及R<sub>o</sub>随研究条件变化的图;最后,根据图的特征确定金属材料表面性能的差异。本发明利用了电化学阻抗谱的灵敏性和信息的丰富性,以及mCRR传输线模型的客观性、通用性等,从而客观、灵敏地鉴别了不同条件下金属材料表面性质之间的差异。
申请公布号 CN100570348C 申请公布日期 2009.12.16
申请号 CN200610032327.2 申请日期 2006.09.28
申请人 韶关学院 发明人 孙秋霞
分类号 G01N27/26(2006.01)I 主分类号 G01N27/26(2006.01)I
代理机构 韶关市雷门专利事务所 代理人 周胜明
主权项 1、一种金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法,其特征是:分析在包括预处理条件、腐蚀电位、电介质浓度和组成、体系温度和样品浸泡时间的因素的影响下,金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法,从而鉴别金属样品表面状态的差异,而样品性能的差异包括清洁度、润湿性、腐蚀活性、表面氧化膜或者预处理膜的介电性质、膜的完整与致密性;首先采用mCRR传输线模型拟合在满足因果性、稳定性和线性条件下测量的电化学阻抗谱,其中m为正整数,C和R分别表示纯电容和纯电阻;然后根据公式f*=1/(2πCiRi)分别求出各Ci和Ri并联分支的特征频率f*,并作出在不同的系列研究条件下离散参数Ci和Ri随特征频率变化分布的对数图以及Ro随研究条件变化的图;作最佳m值条件下mCRR传输线模型的离散参数Ci和Ri随特征频率fi*(fi*=1/(2πCiRi))变化的对数曲线,根据对数曲线及其变化特点来表征金属表面状态的特征;所述的对数曲线的变化特征包括:(1)离散元件值随特征频率的分布值随时间的变化,(2)离散元件值随特征频率变化的速率,(3)离散元件随特征频率分布值的变化规律,(4)离散元件极值对应的特征频率大小的变化规律;最后,根据图的特征确定金属材料表面性能的差异;利用电化学阻抗谱的灵敏性和信息的丰富性,以及mCRR传输线模型拟合、分析阻抗谱的客观性、通用性,从而客观、一致、灵敏地综合表征金属材料表面性质之间存在的差异,并应用于包括化成箔、电池、电镀和金属预处理与金属材料有关的生产工艺。
地址 512023广东省韶关市东郊大唐路9公里韶关学院