发明名称 |
一种射线照相检验补偿方法 |
摘要 |
本发明涉及一种射线照相检验补偿方法,其要点是运用比较方法测定不同胶片的黑度值,并以不同胶片的特性曲线测试数据,作出不同胶片特性曲线图,选出适合射线照相检验的胶片;通过对X射线机测定光束均匀性来验证有效透照区选定的合理性和可靠性;最后在零部件透照前,对充填补偿粉末的密度选择要与被检材料密度相同或相近,同时对射线的吸收、衰减也要相近,充填粉末粒度选为0.1~0.3mm,粉末充填要密实,不留空隙。本发明的优点和效果是,提供了合理有效的射线照相检验工艺,能保证检测质量,方法简单,操作方便,效率高,设备费用低,能较大地降低成本,本方法适合在一般工业生产环境中应用。 |
申请公布号 |
CN100545642C |
申请公布日期 |
2009.09.30 |
申请号 |
CN200410087558.4 |
申请日期 |
2004.11.17 |
申请人 |
沈阳黎明航空发动机(集团)有限责任公司 |
发明人 |
熊瑛 |
分类号 |
G01N23/00(2006.01)I;G03C5/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/00(2006.01)I |
代理机构 |
沈阳东大专利代理有限公司 |
代理人 |
李在川 |
主权项 |
1、一种射线照相检验补偿方法,其特征在于a、运用比较方法测定并选择适合射线照相检验的高灵敏度胶片,是将X光胶片包上黑纸,其上盖铅板,铅板上开有曝光孔,曝光时将铅板移动,X射线通过小孔使胶片分段曝光,获取不同曝光量下的底片黑度;对每一曝光点黑度测三次,取其平均值,得到不同胶片特性曲线测试数据,以此数据作出不同胶片的特性曲线图,选出适合射线照相检验的胶片;b、通过利用对X射线机测定光束均匀性来确定射线照相的有效透照区,其步骤是在一个圆形铅台上放置5个相同的金属试片,其中4个放在圆周,互成90°角,一个放在圆心,对5个试片同时进行透照,使每张底片上得到黑度值在2.5~3.5的范围内,每张底片上的黑度值满足下式条件:D0-0.30D0≤D≤D0+0.30D0其中:D0是中心射线束所指试片射线底片的黑度D是每个金属试片射线底片黑度;c、选择补偿粉末及进行填充操作:在零部件透照前,选择充填的补偿粉末的密度要与检测材料密度相同或相近,同时对射线的吸收、衰减也要相近,充填粉末粒度选为0.1~0.3mm,粉末充填要密实,不留空隙。 |
地址 |
110043辽宁省沈阳市大东区东塔街6号 |