FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法及专用电路板

摘要

FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法及专用电路板，涉及集成电路技术，本发明的专用电路板包括电源接口及开关、稳压电路、配置PROM夹具、FPGA夹具、显示器件和晶振，电源接口通过稳压电路为整个电路板供电，显示器件连接在FPGA夹具上，晶振与FPGA夹具连接，配置PROM夹具与稳压电路和FPGA夹具连接。本发明尽最大可能的屏蔽了外部干扰因素，测试效结果可靠性高。

主权项

1、FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)将待测FPGA和配置PROM安装在测试电路板上，对其进行参数测试并记录；(2)测试装有Co-60的铅罐的窗口处的剂量率；(3)将步骤(1)中的测试电路板固定在屏蔽Co60的铅罐窗口处；(4)将电源由实验室外部引入，连接到电路板上，并在实验室外电源处串接安培表，然后对测试电路板进行调试；所述测试电路板带有显示模块；(5)将钴源从井里用机械臂升起来，对被测器件进行辐照。(6)根据屏蔽室外对屏蔽室内剂量率的检测，在剂量率最大时，开始计时；(7)在室外观察电流表的变化，记录时间点和该点的电流值，通过设置在实验室内的摄像头，用监视器观察电路板的显示数据并记录；(8)测试到预设的总剂量时，将钴源用机械臂降到水井里；(9)将电路板断电，取下待测器件，再测试各项参数。