发明名称 | 硅基缺陷掺杂发光薄膜材料的制备方法 | ||
摘要 | 硅基缺陷掺杂发光薄膜材料的制备方法,属于半导体光电子材料技术领域,特别涉及半导体硅基发光薄膜材料的制备方法。硅基缺陷掺杂发光薄膜材料是在硅基片上利用三氧化二硼、三氧化二铝、三氧化二镓、三氧化二铟、磷的氧化物、砷的氧化物、锑的氧化物、铋的氧化物这8种材料中的一种或多种和二氧化硅混合的基础上,掺入具有高还原性的单质铝原子。接着经过一个非氧化气氛下的高温退火过程,利用单质铝原子的高还原性,使整个薄膜材料体系因欠氧而生成与氧空位相关的缺陷发光中心。这种硅基缺陷掺杂发光薄膜材料可应用于硅基半导体照明。 | ||
申请公布号 | CN101431135A | 申请公布日期 | 2009.05.13 |
申请号 | CN200810147886.7 | 申请日期 | 2008.12.16 |
申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 张建国 |
分类号 | H01L33/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L33/00(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、硅基缺陷掺杂发光薄膜材料的制备方法,是在硅基片上利用三氧化二硼(B2O3)、三氧化二铝(Al2O3)、三氧化二镓(Ga2O3)、三氧化二铟(In2O3)、磷的氧化物、砷的氧化物、锑的氧化物、铋的氧化物这8种材料中的一种或多种和二氧化硅混合的基础上,掺入具有高还原性的单质铝原子。接着经过一个非氧化气氛下的高温退火过程,利用单质铝原子的高还原性,使整个薄膜材料体系因欠氧而生成与氧空位相关的缺陷发光中心。包括以下步骤:步骤1:在硅基片上制备混合有三氧化二硼(B2O3)、三氧化二铝(Al2O3)、三氧化二镓(Ga2O3)、三氧化二铟(In2O3)、磷的氧化物、砷的氧化物、锑的氧化物、铋的氧化物这8种材料中的一种或多种、二氧化硅以及单质铝原子的薄膜材料;步骤2:非氧化气氛下高温退火,使整个薄膜材料因欠氧而生成与氧空位相关的缺陷发光中心。 | ||
地址 | 610054四川省成都市建设北路二段四号 |