发明名称 相变化存储器及其制造方法
摘要 本发明公开了一种相变化存储器及其制造方法。该相变化存储器包含相变化材料层,其中该相变化材料层具有凹陷部;以及加热源,其中该加热源具有延伸部,其中该加热源的延伸部楔入该相变化材料层的凹陷部。
申请公布号 CN101373814A 申请公布日期 2009.02.25
申请号 CN200710142372.8 申请日期 2007.08.22
申请人 财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 发明人 林永发;王德纯
分类号 H01L45/00(2006.01);G11C11/56(2006.01) 主分类号 H01L45/00(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 彭久云;许向华
主权项 1.一种相变化存储器元件,包括:相变化材料层,其中该相变化材料层具有凹陷部;以及加热源,其中该加热源具有延伸部,其中该加热源的延伸部楔入该相变化材料层的凹陷部。
地址 中国台湾新竹县