发明名称 |
在光致抗蚀剂层表面内形成凹陷的方法 |
摘要 |
在光致抗蚀剂层(1)的表面(4)内形成凹陷(15)的方法,该方法包括使用第一剂量的辐射能量(7)曝光(100、120、101、102、122)光致抗蚀剂层的第一部分(12)。使用第二剂量的辐射能量(7)曝光(120、101、122)该层的第二部分(17)。第二剂量小于第一剂量。烘焙(110、130、131、132)该层。 |
申请公布号 |
CN100458569C |
申请公布日期 |
2009.02.04 |
申请号 |
CN200480036934.5 |
申请日期 |
2004.11.29 |
申请人 |
惠普开发有限公司 |
发明人 |
M·夏拉维;T·R·斯特朗 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);B01J2/14(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘红;陈景峻 |
主权项 |
1.在光致抗蚀剂层(1)的表面(4)内形成凹陷(15、15’,24)的方法,所述方法包括:使用第一剂量的辐射能量(7)曝光(100、120,101,102、122)光致抗蚀剂层(1)的第一部分(12);使用第二剂量的辐射能量(7)曝光(120,101,122)光致抗蚀剂层(1)的第一部分(12)和第二部分(17),该第二剂量不一定小于第一剂量(100、120),第一部分(12)接收的总剂量大于第二部分(17)接收的总剂量;以及烘焙(110、130,131,132)该光致抗蚀剂层(1);根据该光致抗蚀剂材料选择辐射能量(7)的剂量以及升高的温度,使得烘焙(110、130,131,132)在光致抗蚀剂层(1)的表面内形成凹陷(15、15’,24)。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |