发明名称 高均匀性(In)GaAsP/(AlGa)<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>P外延片的生长方法
摘要 一种获得高均匀性(In)GaAsP/(AlGa)<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>P外延片的生长方法,包括:将衬底放入低压金属有机化学气相沉积系统的反应室中,外延生长前将反应室升温、降压;分别以III族金属有机源和V族氢化物源为先驱源,在载气带动下进入反应室,在衬底上依次生长缓冲层、下包层和下波导层;将氢化物磷源切换为有机磷源,其他先驱源不变,在载气带动下进入反应室,以低V/III比在下波导层上生长有源层;将有机磷源切换回氢化物磷源,在有源层上依次生长上波导层、上包层和欧姆接触层;关闭载气和所有先驱源,向反应室充入氮气,升压;将外延片在反应室中进行退火;将外延片从反应室中取出,完成外延片的制作。
申请公布号 CN101358335A 申请公布日期 2009.02.04
申请号 CN200710119872.X 申请日期 2007.08.02
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 仲莉;马骁宇
分类号 C23C16/22(2006.01);H01L21/205(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 C23C16/22(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种获得高均匀性(In)GaAsP/(AlGa)0.5In0.5P外延片的生长方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:取一衬底;步骤2:将衬底放入低压金属有机化学气相沉积系统的反应室中,外延生长前将反应室升温、降压;步骤3:分别以III族金属有机源和V族氢化物源为先驱源,在载气带动下进入反应室,在衬底上依次生长缓冲层、下包层和下波导层;步骤4:保持反应室温度不变,将氢化物磷源切换为有机磷源,其他先驱源不变,在载气带动下进入反应室,以低V/III比在下波导层上生长有源层;步骤5:将有机磷源切换回氢化物磷源,在有源层上依次生长上波导层、上包层和欧姆接触层;步骤6:关闭载气和所有先驱源,向反应室充入氮气,升压;步骤7:将反应室降温,外延片在反应室中进行退火;步骤8:将外延片从反应室中取出,完成外延片的制作。
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